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        1. 產(chǎn)品展示
          PRODUCT DISPLAY
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          高精度材料電阻檢測選擇:Loresta-GX MCP-T700電阻率分析儀選購指南

        2. 發(fā)布日期:2025-09-11      瀏覽次數(shù):12
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            在電子材料、半導體、新能源等行業(yè)快速發(fā)展的今天,材料電阻特性的精確測量對產(chǎn)品質(zhì)量控制至關(guān)重要。Loresta-GX MCP-T700四探針電阻率分析儀(又稱阻抗計)以其出色的測量精度和廣泛的材料適應性,成為眾多企業(yè)和科研機構(gòu)的選擇設備。

            本文將詳細分析這款儀器的技術(shù)特點、應用場景及選購要點,助您做出明智的選擇。

            一、核心技術(shù)原理:四探針法消除測量誤差

            Loresta-GX MCP-T700采用恒流源四探針測試原理,通過四個鍍金彈簧探針與樣品表面接觸,施加恒定電流并測量電壓降,從而計算電阻值。

            這種方法的突出優(yōu)勢在于能有效消除探頭接觸電阻和導線電阻對測量結(jié)果的影響,保證數(shù)據(jù)的準確性2。

            儀器可根據(jù)樣品尺寸自動計算阻抗率校正因子(RCF)值,直接得出體積電阻率(Ω·cm)、表面電阻率(Ω/□) 和電導率(S/cm),無需人工計算。

            二、產(chǎn)品主要特點與性能優(yōu)勢

            1. 寬廣的測量范圍

            MCP-T700的測量范圍擴展至 0.001×10?? ~ 9.999×10?Ω,覆蓋從超低導電材料到高阻材料的各種樣品,相比前代產(chǎn)品有明顯提升。

            2. 高精度觸控操作

            儀器配備7.5英寸真彩色TFT-LCD觸摸屏(分辨率640×480),操作界面直觀便捷,大大提升了用戶體驗。

            3. 智能測量功能

            新增一鍵自動測試功能(Auto-hold和Timer Model),測試完成后自動停止并保持測試值,簡化了操作流程。

            4. 多種探頭選擇

            儀器支持多種專用探頭,可根據(jù)不同樣品特性選擇最合適的探頭:

            探頭類型型號適用樣品針尖規(guī)格彈簧壓力
            ASP探頭MCP-TP03P通用型0.37R×4支210g/支
            ESP探頭MCP-TP08P不均勻樣品φ2mm×4支240g/支
            PSP探頭MCP-TP06P小樣品/薄膜0.26R×4支70g/支
            NSCP探頭MCP-NSCP硅晶圓0.04R×4支250g/支
            TFP探頭MCP-TFP硅片/玻璃基板薄膜0.15R×4支50g/支

            5. 數(shù)據(jù)存儲與輸出

            內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲功能,可通過USB接口轉(zhuǎn)存數(shù)據(jù),方便后續(xù)分析和記錄

            6. 樣品保護功能

            提供10V和90V兩種測量電壓可選,避免過高電壓對敏感樣品造成損傷。

            三、主要應用領(lǐng)域

            Loresta-GX MCP-T700適用于多種行業(yè)和材料類型的電阻特性測量:

            • 電子半導體行業(yè):硅晶圓、LCD、TFT、ITO玻璃、導電陶瓷、半導體材料

            • 能源材料領(lǐng)域:鋰電池電極材料、導電涂料、導電油墨、導電膠

            • 高分子材料:導電塑料、導電橡膠、防靜電材料、電磁屏蔽材料

            • 金屬與鍍層:金屬鍍膜、噴金屬層、金屬板、鎂合金電鍍、表面處理

            • 粉末材料:碳粉、金屬粉末、磁性材料(需配合全自動粉末電阻率測試系統(tǒng))

            四、選購指南:如何選擇適合的配置

            1. 根據(jù)主要測試樣品選擇探頭

            • 常規(guī)樣品:選擇ASP探頭,滿足大多數(shù)測量需求

            • 不均勻表面樣品:選用ESP探頭,獲得更穩(wěn)定的測量結(jié)果

            • 小型樣品或薄膜:PSP探頭更為適合

            • 硅晶圓測試:應選擇專用的NSCP探頭

            • 硅片或玻璃基板上的薄膜:TFP探頭是佳選擇

            2. 考慮測量精度需求

            MCP-T700的測量精度達到±0.5%,滿足大多數(shù)工業(yè)應用和科研需要。對于高精度要求的場合,應確保在恒溫恒濕環(huán)境下使用,并定期使用探頭檢驗片進行校準。

            3. 考慮后續(xù)擴展需求

            如需測試粉末材料,可考慮搭配全自動粉末電阻率測試系統(tǒng),實現(xiàn)加壓、測試、釋放一鍵完成

            五、使用注意事項

            1. 定期校準:使用隨附的探頭檢驗片定期檢查探頭狀態(tài),確保測量準確性

            2. 樣品準備:確保樣品表面平整清潔,與探針有良好接觸

            3. 環(huán)境條件:在標準環(huán)境條件下(溫度23±1℃,濕度50±10%)進行測量,以獲得可靠結(jié)果

            4. 探頭保養(yǎng):定期清潔探針針尖,避免污染影響測量結(jié)果

            六、品牌與服務保障

            Loresta-GX MCP-T700由日東精工分析技術(shù)(原三菱化學分析技術(shù))生產(chǎn),2021年4月由原三菱化學分析技術(shù)株式會社變更為日東精工分析技術(shù)株式會社。

            儀器符合國際標準ISO 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K 7194、JIS R 1637,確保測量結(jié)果的可靠性。

            Loresta-GX MCP-T700四探針電阻率分析儀以其寬廣的測量范圍、測量精度和廣泛的材料適應性,成為材料導電性能測試的理想選擇。

            無論是用于生產(chǎn)質(zhì)量控制、產(chǎn)品研發(fā)還是科學研究,這款儀器都能提供可靠、準確的測量數(shù)據(jù),幫助您優(yōu)化工藝、提升產(chǎn)品質(zhì)量。


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