故障測(cè)試 HIT-5000 LSI 抗擾度測(cè)試儀介紹

發(fā)布日期：2021-12-20      瀏覽次數(shù)：1261

故障測(cè)試 HIT-5000 LSI 抗擾度測(cè)試儀介紹



使用 TLP（傳輸線脈沖）的設(shè)備的抗擾度測(cè)試儀。 使用ESD槍的IEC64000-4-2對(duì)應(yīng)設(shè)備的抗擾度測(cè)試儀很常見，但是當(dāng)它到達(dá)LSI時(shí)，它變成了振動(dòng)波形，結(jié)果，由于振動(dòng)而向正方向擺動(dòng)時(shí)會(huì)發(fā)生故障。是在負(fù)方向擺動(dòng)時(shí)無(wú)法區(qū)分故障和故障的問(wèn)題。 在該測(cè)試儀中，通過(guò)將矩形波直接施加到低阻抗 LSI 的引腳，可以區(qū)分正負(fù)故障。 通過(guò)使用可選的同步單元，可以很好地再現(xiàn)故障事件。 例如，在 CPU 的情況下，通過(guò)在 ROM / RAM / IO 訪問(wèn)的時(shí)間應(yīng)用脈沖噪聲，可以在每個(gè)時(shí)間進(jìn)行抗擾度測(cè)試。 此外，方波易于建模為模擬信號(hào)源，并有望作為分析工具。 如下圖所示，將連接器插入電源或GND線，連接應(yīng)用探頭，設(shè)置應(yīng)用電壓和應(yīng)用次數(shù)。圖中，過(guò)濾器在外部，過(guò)濾器的正面在設(shè)備內(nèi)部。由于該設(shè)備沒有檢測(cè) LSI 故障的功能，因此需要采取一些措施，通過(guò)在被測(cè)設(shè)備上安裝監(jiān)視器 LED 來(lái)檢測(cè)故障。 使用同步單元時(shí)，需要將來(lái)自LSI的同步信號(hào)輸入到同步單元中。