synqroa半導體晶片檢查用目視檢查照明裝置的特點

發(fā)布日期：2024-06-05      瀏覽次數(shù)：624

synqroa半導體晶片檢查用目視檢查照明裝置的特點

這使得能夠可視化鏡面材料中的缺陷和雜質(zhì)，而使用常規(guī) LED 照明很難檢查這些缺陷和雜質(zhì)。
PHASERAY® 的“無影光"和“光學干涉"技術(shù)可以從任何 360 度角度進行檢查，揭示以前看不見的缺陷和雜質(zhì)。



特征

這是一種檢查照明設備，專門用于檢測鏡面材料上的缺陷（劃痕、孔洞、指紋、缺口、裂紋等）和雜質(zhì)（顆粒、污染物、灰塵等）。通過將護眼手術(shù)燈技術(shù)應用于醫(yī)療照明，可以從360度任意角度進行工作，而無需采取不合理的姿勢。此外，PHASERAY® 的光學干涉技術(shù)可以僅突出顯示缺陷和雜質(zhì)。

視覺檢測設備/流程設計的世界將發(fā)生改變，您將不再需要設計照明位置，而這對于 LED 照明來說是很困難的。

半導體晶片檢查中的使用示例



檢查姿勢正確



照亮廣闊的區(qū)域

更短的工作時間=更低的公用事業(yè)成本

• 照明范圍廣（最大可達φ400），因此無需移動照明設備來匹配物體的尺寸。



提高質(zhì)量并減少投訴

• 由于冷卻機構(gòu)采用散熱器機構(gòu)，因此無需擔心冷卻風扇對潔凈室造成污染。

縮短工作時間、降低勞動力成本、應對人口老齡化

• 如果僅照亮身體的一部分，則患者在觀察時必須改變其位置，這會導致長時間檢查時的疲勞。

• 如果照射面積不夠，則需要觀察技術(shù)，但如果照射整個表面，則不需要任何技能，任何人都可以以同樣的方式觀察。



實施后效果測量結(jié)果

檢查時間減少25%！返工和不良品的響應時間已減少到幾乎為0！

規(guī)格

L-FRONT規(guī)格

物品	內(nèi)容
型號名稱	LSF-AR0001
光源
照度（50cm）	約 40000 勒克斯
照射范圍（50%照度）	約Φ300mm
機身尺寸	160（寬）×150（深）×140（高）毫米
電源	AC100~240V 50/60Hz
最大功耗	約80W
重量	約2公斤
電壓	直流38V
當前值	2A

特性數(shù)據(jù)

L-FRONT特性數(shù)據(jù)

工作距離 [毫米]	照度 [勒克斯]	照野范圍 [mm]
		照度%	X	X
500	40000	50	270	280
		20	540	540
400	57000	50	220	250
		20	第440章	450